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无损密封测试仪MLT-FP8

型号:MLT-FP8

品牌:Paratronix 普创

类别:容器包装密封完整性测试仪



MLT-FP8无损密封测试仪是一款专为软包装研发的无损的微泄漏检测设备,该密封性检测设备采用了Paratronix自主开发的泄漏检测技术和软件,保障了用户各类软包装的完整性。该项技术和设备广泛应用于食品、制药、医疗器械等行业。



产品简介


无损密封测试仪MLT-FP8检测仪器也称为容器包装密封完整性测试仪、真空衰减和压力衰减法检漏仪,采用非破坏性测试方法,使用真空衰减或压力衰减双方法,适用于安瓿瓶、西林瓶、注射剂瓶、冻干粉针剂瓶和预灌封包装样品的微泄漏和包装密封完整性检测。 


无损密封测试仪

无损密封测试仪



技术优势

●适用于多种包装类型和尺寸,并可进行多工位同时测试;

●能够检测出低至5μm的泄漏孔径;

●19吋内嵌式计算机,具有触摸功能,方面操作使用;

●能够存储10000条测试数据;

●多级权限管理,账户灵活设定;

●稳定的操作系统;

●可连接打印机打印报告;

●具备WIFI功能;

●快速高效的测试速度;

●具备审计追踪功能目完全符合21CFR 第11部分;


技术参数

指标参数
真空度
-99Kpa
测试周期≥20s
操作界面19吋触摸屏
试样数量8
操作系统Windows 10
最小检测限≤5μm
外壳不锈钢/钣金
电源AC220V±22V,50Hz
设备尺寸850mm(长)x 670mm(宽)x 720mm(高)
重量120kg
保修12个月


设备操作

将样品包装放入测试腔中,然后关闭测试腔盖。试验分为四个测试阶段

1、 抽真空阶段:

施加预定水平的真空以产生膨胀,并在整个测试周期内进行监控,

2、稳定阶段:

达到设定真空度后进入稳定平衡阶段

3、衰减测试阶段:

传感器将会识别微小的压力变化。如果压力袁减超过设定值,则包装将被归类为泄漏

4、严重孔洞识别阶段:

在衰减阶段结束时,如果压力小于测试方法中预先设定的水平,则该包将被归类为严重泄漏。


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